2023年6月19日，為積極推動表面分析科學與應用技術的快速發展，加強同行之間交流合作，展示表面分析技術最新的進展，推動分析測試質量保障體系、數據溯源體系和標準體系的建設，由國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心、全國微束分析標準化技術委員會表面化學分析分技術委員會、中國分析測試協會高校分析測試分會、北京理化分析測試學會表面分析專業委員會及儀器信息網聯合舉辦的“第十屆表面分析技術應用論壇暨表面化學分析國家標準宣貫會”順利舉辦。本屆會議由儀器信息網在線直播，科研云、寇享學術、邃瞳科學云、科學邦等平臺同步轉播，線上觀看人次首次累計超7.5萬人次。

會議由國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心副主任、清華大學姚文清正高工和全國微束分析標準化技術委員會表面化學分析分技術委員會秘書長、中科院化學所劉芬副研究員主持。國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心主任、清華大學李景虹院士致辭并介紹了國家大型科學儀器中心—北京電子能譜中心的基本情況。北京工業大學韓曉東教授、中科院化學所陳春城研究員、中科院地化所李陽研究員等專家作了精彩學術報告。表面化學分析分技術委員會的4位委員，天津工業大學趙麗霞教授、清華大學李展平高工、寶鋼中央研究院張毅教授級高工、上海交通大學孫潔林教授進行了表面化學分析國家標準的宣貫；賽默飛公司葛青親博士和IonTOF公司郭茹分別介紹了XPS和TOF-SIMS在半導體、OLED、電池、有機材料、生物等領域的最新應用。

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