設備名稱：原子力顯微鏡 Atomic Force Microscopy, AFM
設備編號：17002180
型號：Cypher VRS
廠家：牛津儀器
放置地點：生命科學館138
收費項目名稱
常規測試費 校外：400元/小時、校內：300元/小時
注：1 氣體氣氛按使用量另收取費用。
???????2 特殊功能有0-200元的浮動，如液體環境、溫控實驗、電學/磁學測試、高分辨等。
???????3 探針按型號收費，建議自備。
包含了多種分辨率范圍；
儀器最快掃描速度可達到625HZ，最快超過10幅圖/秒；
制冷制熱變溫范圍:0-250℃;
匹配電壓10V;
掃描范圍xy方向30*30μm，z軸方向5μm。
12種模式：
1.接觸模式（contact mode）
2.側向力顯微鏡模式（lateral force mode）
3.視頻級成像模式（Cypher Highest Resolution Fast Scanning）
4.輕敲模式（tapping mode／AC mode）
5.藍光模式（blue drive）
6.導電力顯微鏡模式（conductive AFM／ORCA）
7.壓電力顯微鏡模式（Piezoresponse force Microscope）
8.靜電力顯微鏡模式（Electrostatic Force Microscopy）
9.開爾文探針力顯微鏡（Scanning Kelvin Probe Microscopy）
10.磁力顯微鏡（Magnetic Force Microscopy）
11.掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）
12．納米雕刻/操縱（Nanolithograpy/Nanomanipulation）
又稱多功能單分子力譜儀、掃描探針顯微鏡，該設備配有可控環境封閉樣品臺，能夠實現液體、氣體等多種氛圍的測試環境，樣品臺可變溫度范圍：0-250℃，可實時顯示溫度，氣壓，濕度等環境參數。另配有blueDrive光熱激勵系統，能夠以光熱的方式，直接激勵懸臂，從而產生更加理想的響應。這給所有輕敲模式技術賦予了強大的性能和易操作性，尤其在液體環境中可以實現長時間連續穩定原位成像。可兼容各種模式和配件，多種模式可以對納米材料表面微觀形貌、大小、厚度和粗糙度進行表征，容易實現原子級高分辨成像，可進行表面力學機械性能測量，微納米尺度材料的表面電性能（電勢，電流，I-V曲線，壓電）及磁學性能的表征。
應用于材料科學、聚合物科學、半導體工業、電化學以及生命科學等領域，多種種模式可以對靜電力、表面電荷、表面電勢、壓電信號、磁力等進行快速高效的表征。
