2023年5月23日下午，由清華大學實驗室管理處主辦、國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心承辦的“清華大學第三十四次實驗技術隊伍提升計劃培訓交流會”在實驗室管理處會議室舉行。會議以“表面化學分析技術標準化”為主題，通過線上線下結合方式進行。國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心副主任、分析中心能譜分析平臺主管姚文清正高工牽頭組織并主持會議，50余位校內各測試平臺的實驗技術人員參加了會議。

清華大學實驗室管理處副處長江永亨致辭，江老師表示實驗技術隊伍提升計劃培訓交流會是開展學習交流、提升創新能力的重要途徑，為不同專業和研究領域之間的技術人員交流搭建平臺。實驗室處將積極推進技術交流活動，助推實驗技術交流團隊的高質量發展。希望通過本次針對表面化學分析的專業性交流討論，實現同行間實驗技術的深入交流，促進實驗技術的改進與提高，有效支撐學校的雙一流建設。實驗室管理處實驗室建設辦方馳介紹了會議組織情況，希望以此次會議為契機，加強校內相關老師的交流合作，鼓勵實驗技術人員參與儀器相關科研和標準制定工作，提升實驗分析技術能力。姚文清介紹了能譜中心的整體概況、人才培養、國際標準與國家標準制定成果。

本次交流會邀請到表面分析化學分技術委員會三位委員，分別就其主導起草的國際標準和國家標準進行了宣貫。中國科技大學黃文浩教授針對《ISO 11039: 2012 Surface chemical analysis — Scanning-probe microscopy — Measurement of drift rate》，作了題為《掃描探針顯微鏡漂移率的測量》的報告，提出了三種測量漂移的校正方法。清華大學分析中心李展平高工針對《ISO/TS 22933:2022 Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS》，以《二次離子質譜（SIMS）質量分辨的測量》為主題展開介紹，從原理入手，對比了不同種類儀器的二次離子質譜峰，對質量分辨進行了重新定義，規范SIMS質量分辨測量的相關工作。北京師范大學分析測試中心吳正龍教授級高工針對《GB/T 25185-2010 表面化學分析 X射線光電子能譜 荷電控制和荷電校正方法的報告》，通過介紹測試技術、經驗與心得，為實驗技術人員提供了X射線光電子能譜荷電控制思路與測試方法。三位專家分享了多年來在表面分析領域的經驗與成果，與會人員就報告內容及實際測試問題與三位專家進行了充分的交流和探討。